网络分析仪时域变换模式通常采用逆Z变换，带宽方式可选低通模式或带通模式。低通模式一般用来进行宽带DUT测试，如电缆和接插件测试；带通模式通常用于窄带或高通滤波DUT。低通模式可选择低冲响应或低通阶跃响应，脉冲响应常用来传输线和接头坏点测试；阶跃响应常用来阻抗测试。低通模式需要虚拟补齐0频和负频率频响值，在-SPAN~+SPAN范围内时域变换。

使用网络分析仪时域功能的工程师经常困惑时域指标问题，通常在网络分析仪指标手册上查不到，而是由频域响应计算得来，取决于网络分析仪频域指标，带宽（SPAN）、频点间隔（STEP）、点数（PNTS）和窗型。

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视频作者：天津国电仪讯科技有限公司

网络分析仪内部功分器和定向耦合器分别完成对被测件输入信号和反射信号的提取。其中当要测试被测件某个端口反射特性时，必须将定向耦合器直接连接在该测试端口上。

这两部分统称为信号分离装置，这部分硬件也通常被测试为“测试座”，在一些特殊测试场合(大功率测试等)可不使用网络分析仪表一体化的内置测试座，而使用外置测试座设备。

电桥用于反射性能测试，电桥可覆盖很宽频率范围，电桥的主要缺点是对传输信号有较大损耗。因此对于给定的信号源功率。结果导致输入到被测件的功率损失。

定向耦合器负责分离反射测试中的激励信号和反射信号，这个功能也可由电桥完成，与定向耦合器相比，电桥可覆盖更宽的频率范围，单其对测试的传输信号有较大损耗。

内部信号源也可用于测试频率转换器件如混频器或变频器，测试时除输入激励之外还需要LO信号。第二个信号源对扫描LO测试十分有用，在测试时LO信号连同射频输入信号一起被扫描，但保证RF信号和LO信号的频率差是固定的。这个方法常用于测量宽带变频器的前端元件。与使用外部信号发生器相比，使用从VNA内部信号源引出的信号作为LO信号在测试速度上有几位明显的改善（使用PNA-X的测试速度比传统方法的测试速度可5倍）。